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Fluke 1621 接地電阻測試儀

簡要描述：Fluke 1621 是一款簡單易用的接地測試儀。對于接地電阻測試場合，1621 是檢測可靠接地連接線路的*道防線。裝置采用多種基本的接地測試方法，其中包括三極電壓降測試法及兩極接地電阻測試法。它的尺寸輕巧方便，擁有結(jié)實的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯示屏，使之成為大多數(shù)電氣接地工作場合的理想現(xiàn)場接地測試儀。 Fluke 1621 擁有簡單的用戶界面和直觀易用的功能，是一款電氣承包商、設(shè)備

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2025-12-27
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福祿克（Fluke）產(chǎn)品

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★ Fluke 1621 接地電阻測試儀特點：
⊙ 三極電壓降接地測試法進行基本的測量
⊙ 兩極電阻測量法提供更多的功能
⊙ 單鍵操作，輕松捕獲數(shù)值
⊙ 自動“信噪”電壓檢測功能可確保精確的測量
⊙ 危險電壓警告功能提供更高的用戶保護級別
⊙ 大屏幕背光顯示屏便于清晰地讀取和記錄數(shù)據(jù)
⊙ 結(jié)實耐用的皮套，設(shè)計用于苛刻的工作環(huán)境
⊙ 小巧緊湊，方便攜帶
⊙ 測量結(jié)果超過設(shè)定的限制值時立即發(fā)出警告（如果使用可調(diào)的限制設(shè)置）
⊙ 600 V II 類

★ Fluke 1621 接地電阻測試儀技術(shù)指標：

常規(guī)技術(shù)指標

三極接地電阻，兩極交流電阻，干擾電壓

查閱參考溫度范圍，提供一年保修

每秒測量 2 次

1 個 9 伏堿性電池（LR61）

電池電量狀態(tài)

如果電壓低于 6.5 V，則會顯示 LO-BAT（低電量）

H/C2 和 E/C1 接頭之間:	zui大 250 Veff（有效電壓）
S/P2 和 E/C1 接頭之間:	zui大 250 Veff

VDE/VDI 3540 RZ（符合 KWG，每個 DIN 40040，4/87）

工作:	-10 °C 至 +50 °C（+14 °F 至 +122 °F）
操作:	0 °C 至 +35 °C（+32 °F 至 +95 °F）
存儲:	-20 °C 至 +60 °C（+68 °F 至 +140 °F）
參考:	+23 °C ± 2 °C （+73 °F ± 4 °F）

溫度系數(shù)

量程的 ± 0.1 %，每開氏溫度

IEC/EN 61010-1，600 V，II 類，2 級污染

113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米（（4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸），包括護套

850 克（1.9 磅），包括標準附件，體積約 600 立方厘米

如果不使用測試儀，或需要長期存放，請卸下電池并與測試儀分開存放，以免電池泄露對測試儀造成損害。

測試儀的 4 個溫度范圍符合歐洲安全標準要求；通過使用溫度系數(shù)來計算工作環(huán)境溫度下的準確度，儀器可在整個溫度范圍內(nèi)正常工作。

電氣技術(shù)指標

zui大偏差:

E1 影響因素	位置
E1 偏差影響	0%
E2 影響因素	電壓
E2 偏差影響	0%
E3 影響因素	溫度 E3
E3 偏差影響	2.3 %
E4 影響因素	串行干擾電壓（20 V）
E4 偏差影響	0.6 %
E5 影響因素	探針和輔助探針電阻
E5 偏差影響	10%

3.7 kV

IP 40；IEC/EN 60529

電磁兼容性

	輻射: EC/EN 61326，B 類
	抗擾: IEC/EN 61326，附錄 C

R_E 電阻測量

測量方法	使用改進的串擾衰減方法進行電流-電壓測量，無需補償導(dǎo)線電阻測量，使用探針（三極）或不使用探針（兩極），符合 IEC/EN 61557-5 標準
開放電路電壓	23 至 24 V ac
短路電流	> 50 mA ac
測量頻率	128 Hz
zui大許可過載	250 Veff

8 秒（從按“開始起計算的平均值）

即使測試儀關(guān)閉，仍會保留設(shè)定值（如果電池電量充足）

自動切換分辨率

R_H	< 7 kΩ
分辨率	0.01 Ω
R_H	< 50 kΩ
分辨率	0.1 Ω
R_H	> 50 kΩ
分辨率	1 Ω

干擾直流和交流電壓顯示

zui大電壓	30 Veff
共模抑制	> 80 dB，50 Hz 和 60 Hz
Ri	680 kΩ
測量誤差	對于純交流電和直流電信號，< 10 %

0.15 Ω 至 20 Ω

分辨率	0.01 Ω
顯示范圍	0 至 19.99 Ω

200 Ω

分辨率	0.1 Ω
顯示范圍	20 至 199.9 Ω

分辨率	1 Ω
顯示范圍	200 至 1999 Ω

±（測量值的 6 % + 5 位數(shù)字）

操作誤差 IEC 61557

±（測量值的 18 % + 5 位數(shù)字）

[1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于值，即會閃爍。
測量值不在的操作誤差范圍內(nèi)。

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